オント・イノベーション(Onto Innovation Inc)は半導体産業向けの計測・検査ツールの設計・開発・製造・サポートを行う。【事業内容】半導体産業には、パターン付き及びパターンなしウェーハの光学計測を行うプロセス制御ツール、2次元(2D)及び3次元(3D)ウェーハフィーチャーのマクロ検査を含むウェーハマクロ欠陥検査、ウェーハ基板及びパネル基板リソグラフィーシステム、プロセス制御分析ソフトウェアなどがある。製品は、半導体市場で活躍するシリコンウェーハメーカー、半導体デバイスファブリケーター、高度なパッケージングメーカーに使用される。製品には、自動計測システム、統合計測システム、シリコンウェーハ全面検査・特性評価、マクロ欠陥検査、自動欠陥分類及びパターン分析、歩留まり分析、不透明フィルム計測、4次元(4D)技術、高度なパッケージングリソグラフィー、プロセス制御ソフトウェア、歩留まり管理ソフトウェアがある。
名前 | 年齢 | 以来 | タイトル |
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Christopher A. Seams | 58 | 2019 | Independent Chairman |
Michael P. Plisinski | 51 | 2006 | CEO & Director |
Leo Berlinghieri | 67 | 2019 | Independent Director |
Stephen D. Kelley | 61 | 2023 | Independent Director |
David Brian Miller | 66 | 2015 | Independent Director |
Karen M. Rogge | 68 | 2021 | Independent Director |
May Su | 65 | 2022 | Independent Director |
Christine A. Tsingos | 64 | 2014 | Independent Director |
Susan D. Lynch | 62 | 2024 | Independent Director |
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